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該試塊適用于用雙晶直探頭檢測(cè)厚 度不大于20mm的板材，還可用來(lái)制作雙 晶探頭距離-波幅特性曲線

測(cè)試方法：（1）選擇與檢測(cè)板等厚或大于檢測(cè)板厚的階梯，將探頭置于所選擇的的臺(tái)階上，調(diào)節(jié)儀器是***次底波調(diào)整至滿刻度的50%，在提高10dB，作為基準(zhǔn)靈敏度，在基準(zhǔn)靈敏度的基礎(chǔ)上再增益6dB作為檢測(cè)靈敏度。

（2）此試塊還可用來(lái)制作雙晶探頭距離-波幅特性曲線。將選用已校驗(yàn)好的直探頭置于示意圖1中a位置，前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在平面上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的50%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為***點(diǎn)。探頭置于示意圖1中b位置，前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在平面上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的50%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第二點(diǎn)。探頭置于示意圖1中c位置，前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在平面上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的50%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第三點(diǎn)。以此類推記錄探頭有效檢測(cè)范圍內(nèi)所有點(diǎn)，將以上各點(diǎn)連成一條曲線即為標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的雙晶直探頭距離波幅特性曲線。