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影響涂層測(cè)厚儀測(cè)量精度的因素：

1、基體金屬磁性質(zhì)?在熱處理和冷加工的過程中，廣州非接觸膜厚測(cè)量?jī)x，部分基體金屬磁性性質(zhì)會(huì)發(fā)生變化，應(yīng)當(dāng)在測(cè)試之前使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；也可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。

2、基體金屬電性質(zhì)在熱處理過程中，不同的基體金屬導(dǎo)電性會(huì)發(fā)生不一樣的變化，從而使基體金屬電性質(zhì)產(chǎn)生變化，應(yīng)當(dāng)在測(cè)試之前使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

3、基體金屬厚度每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，非接觸膜厚測(cè)量?jī)x哪家好，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。

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光學(xué)膜厚儀的主要特點(diǎn)

基片折射率和消光系數(shù)測(cè)量；

薄膜厚度測(cè)量，平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差分析；

薄膜折射率和消光系數(shù)測(cè)量；

適用于不用材質(zhì)和厚度的薄膜、涂層和基片；

測(cè)試數(shù)據(jù)輸出和加載；

直接Patterned或特征機(jī)構(gòu)的試驗(yàn)測(cè)試；

可用于實(shí)時(shí)在線薄膜厚度、折射率監(jiān)測(cè)；

波長范圍可選；

系統(tǒng)配備強(qiáng)大的光學(xué)常數(shù)庫和材料數(shù)據(jù)庫，便于測(cè)試和數(shù)據(jù)分析。

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涂層測(cè)厚儀有哪些應(yīng)用

涂層測(cè)厚儀可用于測(cè)量鋼鐵等磁性金屬基體表面的油漆、搪瓷、塑料、防腐涂層、防火涂層等厚度。以及測(cè)量非導(dǎo)電基體的涂層厚度。例如家電、鋁合金門窗、非磁性金屬基材表面的塑料涂層以及陽極氧化膜等。

選擇涂層測(cè)厚儀的方法

涂層測(cè)厚儀需要根據(jù)實(shí)際的情況來進(jìn)行選擇。不同的應(yīng)用場(chǎng)景以及測(cè)量材料所以選擇的涂層測(cè)厚儀也不同。

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