體積***小,價(jià)格***具競(jìng)爭(zhēng)力可同時(shí)執(zhí)行8通道PCIe Gen3 Tx眼圖量測(cè)/Rx抖動(dòng)測(cè)試,之PCIe測(cè)試儀
Introspect SV1C-12是全世界體積***小可同時(shí)對(duì)PCIe GEN3 8通道,發(fā)送湍(Tx)做眼圖和Analog Capture量測(cè),接收端(Rx)做抖動(dòng)容忍度(JTOL)測(cè)試和誤碼分析(BER).同時(shí)8通道測(cè)試時(shí)間可在幾分鐘內(nèi)完成.
每個(gè)通***備***注入抖動(dòng)和Skew的能力相當(dāng)適合應(yīng)用在芯片批量測(cè)試,小批量芯片特性化測(cè)試分析以及系統(tǒng)級(jí)PCIe板卡和PCIe cable的物理層信號(hào)質(zhì)量分析
除了做標(biāo)準(zhǔn)PCIe的測(cè)試外,SV1C-12也是一臺(tái)具備8通道的誤碼測(cè)試儀,速度可達(dá): 12Gbps,也適用于一般高速誤碼測(cè)試.
目前美商英特爾及高通有采用此款設(shè)備進(jìn)行小批量PCIe芯片信號(hào)特性化測(cè)試
可同時(shí)對(duì)8通道TX做眼圖量測(cè)
可同時(shí)對(duì)8通道RX做抖動(dòng)容忍度測(cè)試